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三思永恒

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XDL 210 荧光测厚仪

产品名称及型号:荧光测厚仪   XDL 210

制造商:三思永恒科技(浙江)有限公司

说明:图片仅供参考,您订的机器可能与图不完全一致

产品主要功能及应用领域:

 XDL 210 荧光测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和第三方检测机构以及电镀行业无损检测铁镀锌、铁镀铬、铜镀锌、铜镀镍、铜镀金等各类金属镀层厚度测试。

技术参数:

1、元素分析范围:从硫(S)到铀(U);

2、一次可同时分析3层以上镀层;

3、镀层厚度分析检出限可达0.01μm;

4、分析厚度一般为0.1μm到50μm之间(视材料而不同);

5、多次测量重复性可达0.1μm(对于小于1μm的最外层镀层);

6、长期工作稳定性为0.1μm(对于小于1μm的最外层镀层);

7、配置小孔准直器,测试光斑在0.1mm以内;

8、探测器能量分辨率为145±5eV;

9、应用于金属电镀层厚度的测量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等;

400-855-1029

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